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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
检测对象:电压调整二极管
检测项目:工作电压V<Sub>Z<Sub>
漏源击穿电压V<Sub>(</Sub><Sub>BR</Sub><Sub>)</Sub><Sub>DSS</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3047
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工作电压V<Sub>Z</Sub> GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
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