常温循环擦写耐力测试检测

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常温循环擦写耐力测试检测

相关标准

检测标准：电子可清除可编程ROM编程/清除耐久力和数据保持能力测试 JESD22-A117E:2018 4.1

检测对象：集成电路

检测项目：常温循环擦写耐力测试

检测标准：IC集成电路压力测试考核 JESD47K :2018 5.5 表 5-1a

检测对象：集成电路

检测项目：常温循环擦写耐力测试

检测标准：可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 3.1

检测对象：集成电路

检测项目：常温循环擦写耐力测试

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