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检测标准:半导体集成电路运算放大器测试方法
检测对象:半导体集成电路运算放大器
检测项目:最大输出电流I<Sub>OM</Sub>
输出短路电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
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抗拉强度<i>R</i><sub>m</sub>、下屈服强度<i>R</i><sub>eL</sub>、断后伸长率<i>A</i>、最大力总延伸率<i>A</i><sub>gt</sub> GB/T 228.1-2010 金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法
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