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实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测对象:达林顿晶体管阵列
检测项目:最大集电极-发射极电压
集电极-发射极饱和电压 GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》
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集电极-发射极击穿电压 GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 3011
集电极-发射极饱和电压V SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
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