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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 1015.1
检测对象:TTL数字集成电路
检测项目:老炼试验+G61:T61
老炼试验 QJ 908A-1998 电子产品老炼试验方法
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三相老炼试验 NB/T 42065-2016 真空断路器容性电流开合老炼试验导则
单相老炼试验 NB/T 42065-2016 真空断路器容性电流开合老炼试验导则
单相合成老炼试验 NB/T 42065-2016 真空断路器容性电流开合老炼试验导则
老炼试验+G61:T61 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 1015.1
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