X射线照相检验检测
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可加急，最快1.5个工作日（特殊样品除外）
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
电议（检测的标准和检测项目数量不同而价格不同）
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全程跟踪
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相关标准
检测标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法209
检测对象：元器件筛选
检测项目：X射线照相检验
检测标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2012.1
检测对象：元器件筛选
检测项目：X射线照相检验
检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 2076
检测对象：元器件筛选
检测项目：X射线照相检验
检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 2076
检测对象：半导体分立器件
检测项目：X射线照相检验
检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法2076
检测对象：电子元器件及设备（物理性能）
检测项目：X射线照相检验
检测标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法2012A
检测对象：电子元器件及设备（物理性能）
检测项目：X射线照相检验
检测标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法209
检测对象：电子元器件及设备（物理性能）
检测项目：X射线照相检验
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