高温栅极偏置检测
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检测标准：半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
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检测标准：半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
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检测项目：高温栅极偏置
检测标准：半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.2
检测对象：场效应晶体管
检测项目：高温栅极偏置
检测标准：半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.2
检测对象：绝缘栅双极晶体管
检测项目：高温栅极偏置
检测标准：半导体器件 第9部分：分立器件 绝缘栅双极晶体管(IGBTs) IEC 60747-9 Edition 3.0 :2019 7.2.5.2
检测对象：绝缘栅双极晶体管
检测项目：高温栅极偏置
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