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检测标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
检测对象:半导体器件
检测项目:高温栅极偏置(HTGB)
高温栅极偏置 IEC 60749-23-2004 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
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高温栅极偏置 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
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