间歇工作寿命（负载循环）检测
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相关标准
检测标准：半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测对象：绝缘栅双极晶体管
检测项目：间歇工作寿命（负载循环）
检测标准：半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.3
检测对象：场效应晶体管
检测项目：间歇工作寿命（负载循环）
检测标准：半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.3
检测对象：绝缘栅双极晶体管
检测项目：间歇工作寿命（负载循环）
检测标准：半导体器件 第9部分：分立器件 绝缘栅双极晶体管(IGBTs) IEC 60747-9 Edition 3.0 :2019 7.2.5.3
检测对象：绝缘栅双极晶体管
检测项目：间歇工作寿命（负载循环）
检测标准：半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
检测对象：绝缘栅双极晶体管
检测项目：间歇工作寿命（负载循环）
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