荧光寿命检测指的是利用时间分辨技术来检测荧光强度衰减的动态过程。荧光物质在高能量光的激发下，会跃迁至不稳定的激发态，但在其返回至稳定基态的过程中会辐射出荧光光子。所以，荧光寿命直接反映了荧光物质在激发态所停留的平均时间。荧光寿命是荧光物质的另一项重要特性。荧光物质的荧光寿命与自身的结构、所处微环境的*性、粘度等条件有关,因此通过荧光寿命测定可以直接了解所研究体系发生的变化。
荧光寿命测试：
1、频域检测：频域检测技术采用经过调制的激发光激发样品，通过测量在一个或多个调制频率下荧光信号相对于调制激发光的相移和调制度来计算荧光寿命。样品产生的荧光信号与经过调制的激发光具有相同的频率，但是相位会发生延迟，调制度会降低。频域技术能够适应较宽的荧光强度变化范围，耐受*高的荧光强度，但是当荧光较弱的时候，其探测效率会急剧下降。
2、时域检测技术：时域技术基础技术直接记录荧光分子被一个*短的脉冲光激发之后，其荧光强度随时间的变化过程，也就是荧光衰减曲线，可通过对其进行单指数或多指数拟合计算出荧光寿命。
荧光寿命测试费用：
荧光寿命测试费用，由于荧光寿命测试方法不一样所以费用也不一样，具体费用请咨询微谱专业人员。
