检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国，就近分配
可加急，最快1.5个工作日（特殊样品除外）
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
电议（检测的标准和检测项目数量不同而价格不同）
急速响应
全程跟踪
品质严保
1主题内容与适用范围
本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。
2引用标准
GB 3431.1半导体集成电路文字符号电参数文字符号
3总的要求
3.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。3.2测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
3.3测试期间,施于被测器件的电源的内阻在信号频率下应基本为零;电源电压的偏差应在规定值的士1%以内。施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。
3.4在被测器件线性工作区测试时,交流小信号幅度的逐渐减小不应引起参数值的变化。3.5被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用*限条件。
3.6若有要求时,应按器件详细规范规定的顺序接通电源。
3.7测试期间,被测器件应连接详细规范规定的辅助电路和补偿网络。3.8测试期间,被测器件应避免出现自激现象。
3.9若电特性值是由几步测试的结果经计算而确定时,这些测试的时间间隔应尽可能短。
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：低电平输出电流I<Sub>OL
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：共模抑制比CMRR
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：共模抑制比KCMR
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：共模电压输入范围V<Sub>OC
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：差模输入电压V<Sub>ID
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：开环电压增益A<Sub>VD
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：最大共模输入电压V<Sub>ICM
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：最大差模输入电压V<Sub>IDM
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：电压增益A<Sub>vo
检测标准：半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路电压比较器
检测项目：输入偏置电流I<Sub>IB
