双极型随机存储器检测

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双极型随机存储器检测

1引言

通常,本标准需要与GB/T 17573—1998和GB/T16464—--1996标准一起使用。在GB/T 17573和GB/T16464标准中,可查到下列的全部基本资料:

—--术语﹔

—-文字符号﹔

---基本额定值和特性;-—测试方法;

-—接收和可靠性。

2范围

本标准给出了下列各类或各分类器件的标准:—组合和时序数字电路﹔

-—存储器集成电路﹔

——微处理器集成电路﹔———电荷转移器件。

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检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

检测对象:双极型随机存储器

检测项目:全“1”全“0”

检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

检测对象:双极型随机存储器

检测项目:最小写脉冲持续时间t<Sub>Wmin</Sub>

检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

检测对象:双极型随机存储器

检测项目:输出截止电流I<Sub>O(OFF)</Sub>

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