1引言
通常,本标准与IEC 747-1—1983《半导体分立器件和集成电路总则第1部分―总则》一起使用。在IEC 747-1中可找到下列全部基础资料:
——术语;
——文字符号﹔
——基本额定值和特性;——测试方法;
一—接收和可靠性。
本标准各章的编排顺序符合IEC 747-1第Ⅲ章第2.1条的规定。
2范围
本标准给出了下列几种类型双*型晶体管的标准:——小功率信号晶体管(不包括开关用的);
——功率晶体管(不包括开关和高频用的);——放大和振荡用高频功率晶体管;——开关用晶体管。
检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
1引言
通常,本标准与IEC 747-1—1983《半导体分立器件和集成电路总则第1部分―总则》一起使用。在IEC 747-1中可找到下列全部基础资料:
——术语;
——文字符号﹔
——基本额定值和特性;——测试方法;
一—接收和可靠性。
本标准各章的编排顺序符合IEC 747-1第Ⅲ章第2.1条的规定。
2范围
本标准给出了下列几种类型双*型晶体管的标准:——小功率信号晶体管(不包括开关用的);
——功率晶体管(不包括开关和高频用的);——放大和振荡用高频功率晶体管;——开关用晶体管。
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