主题内容与适用范围
本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。
本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。
引用标准
GB3431.1半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
主题内容与适用范围
本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。
本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。
引用标准
GB3431.1半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:开环电压增益A<Sub>VD</Sub>
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:静态功耗P<Sub>D</Sub>
检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>
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