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X射线无损检测检测

相关标准

检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法2076

检测对象：半导体器件

检测项目：X射线无损检测

检测标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2012.1

检测对象：微电子器件

检测项目：X射线无损检测

检测标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法209

检测对象：电子及电气元件

检测项目：X射线无损检测

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