GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法

百检网 2022-10-21

标准简介

本标准描述了用低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中III、V族杂质含量的方法。 本标准适用于硅单晶中的III、V族杂质铝(Al)、锑(Sb)、砷(As)、硼(B)、镓(Ga)、铟(In)和 磷(P)含量的测定,各元素的测定范围(以原子数计)为1.0×1010 cm-3~4.1×1014 cm-3。
英文名称:Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
标准状态:现行
替代情况:替代GB/T 24581-2009
中标分类:冶金>>金属化学分析方法>>H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:冶金>>77.040金属材料试验
发布部门:国家市场监督管理总局.
发布日期:2022-03-09
实施日期:2022-10-01
页数:12页

前言

半金属及半导体材料分析方法相关标准

百检能给您带来哪些改变?

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准;

4、免费初检,初检不收取检测费用;

5、自助下单 快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、中国通用;

客户案例展示

  • 上海朗波王服饰有限公司
  • 浙江圣达生物药业股份有限公司
  • 天津市长庆电子科技有限公司
  • 上海纽特丝纺织品有限公司
  • 无锡露米娅纺织有限公司
  • 东方电气风电(凉山)有限公司