半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)检测

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半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)检测

1引言

通常,本标准与IEC 747-1—1983《半导体分立器件和集成电路总则第1部分―总则》一起使用。在IEC 747-1中可找到下列全部基础资料:

——术语;

一—文字符号;

一—基本额定值和特性;——测试方法;

一—接收和可靠性。

本标准各章的编排顺序符合IEC 747-1第章第2.1条的规定。

2范围

本标准给出了下列几种类型双*型晶体管的标准:——小功率信号晶体管(不包括开关用的),

——功率晶体管(不包括开关和高频用的);——放大和振荡用高频功率晶体管;

——开关用晶体管。

相关标准

检测标准：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)

检测项目：低温测试

检测标准：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)

检测项目：发射极-基极反向击穿电压V<Sub>(BR)EBO</Sub>

检测标准：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)

检测项目：发射极-基极反向截止电流I<Sub>EBO </Sub>

检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 3472

检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)

检测项目：开关时间测试(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>)

检测标准：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)

检测项目：开关时间测试(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>)

检测标准：半导体器件的试验方法标准试验方法 MIL-STD-750F 3472.2

检测对象：半导体晶体管(达林顿,三极管模块，开关管)

检测项目：开关时间测试(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>)

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